精密lcr測(cè)試儀是電子工程師在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中zui常用的電子元器件。作為常見的小小的被動(dòng)器件，確影響著電路的參數(shù)，也直接牽扯的電子產(chǎn)品的優(yōu)劣。所以對(duì)于每個(gè)元器件（電容/電感/電阻），我們要了解其特性參數(shù)，也需要時(shí)刻準(zhǔn)確測(cè)量到這些參數(shù)。
精密lcr測(cè)試儀就是用來(lái)測(cè)試元器件（電容/電感/電阻）參數(shù)的。在一般情況下，電阻只要測(cè)量其直流電阻值就可以了，這樣可以使用萬(wàn)用表或者電阻測(cè)試儀。LCR測(cè)試儀就是采用交流電進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于交流電而言，電壓V與電流I的比值是阻抗Z，直流方式下的電阻R只需用‘大小’來(lái)表示，而阻抗Z確包含了‘大小’和‘相位’兩個(gè)要素，在數(shù)學(xué)上用復(fù)數(shù)和矢量來(lái)表示。
對(duì)于使用精密lcr測(cè)試儀來(lái)測(cè)試器件，我們要重點(diǎn)注意以下幾點(diǎn)：
1.選擇正確的精密lcr測(cè)試儀測(cè)試條件。元器件廠商給出的器件參數(shù)值所代表的是在規(guī)定的測(cè)量條件下能達(dá)到的性能，以及允許出現(xiàn)的偏差值。
2.精密lcr測(cè)試儀選擇合適測(cè)量治具。測(cè)量治具也是LCR測(cè)試儀的重要組成部分，對(duì)于封裝方式多樣化的元器件，LCR也有多種測(cè)量治具選擇。
3.正確的零點(diǎn)校正。LCR測(cè)試儀的零點(diǎn)漂移會(huì)隨著測(cè)試條件的變換或者是測(cè)試治具的不同而產(chǎn)生改變，所以開路以及短路的零點(diǎn)校正非常必要。所以LCR測(cè)試儀都有開路和短路校正的設(shè)置。
如何才能校正精密lcr測(cè)試儀誤差？
為了減少測(cè)量誤差，LCR測(cè)試儀具有若干校正功能。校正值根據(jù)頻率和阻抗的量程不同會(huì)有所不同，所以進(jìn)行全范圍的校正要花費(fèi)很多時(shí)間。這里，對(duì)零點(diǎn)校正和負(fù)荷校正進(jìn)行解說(shuō)。
精密lcr測(cè)試儀零點(diǎn)校正：當(dāng)LCR測(cè)試儀的零點(diǎn)漂移對(duì)于測(cè)量值不能忽略時(shí)，就需要進(jìn)行零點(diǎn)校正。因?yàn)榱泓c(diǎn)漂移會(huì)隨著電纜和電極的物理配置不同而變化，所以進(jìn)行開路和閉路的零點(diǎn)校正時(shí)，必須與連接零部件時(shí)的電纜布線、電極間隔等相同。
精密lcr測(cè)試儀負(fù)荷校正：除了測(cè)量夾具等不同所引起的零點(diǎn)漂移以外，如果還有不能夠忽略的測(cè)量誤差，那么可以進(jìn)行負(fù)荷校正，以提高測(cè)量度。即使對(duì)于沒(méi)有負(fù)荷校正功能的精密lcr測(cè)試儀，也能夠?qū)Ω鱾€(gè)阻抗量程和頻率求取校正系數(shù)，自己進(jìn)行校正。
為了進(jìn)行負(fù)荷校正，首先需要準(zhǔn)備好標(biāo)準(zhǔn)器具或者已知準(zhǔn)確值的零部件。在進(jìn)行了零點(diǎn)校正之后，再測(cè)量已知準(zhǔn)確值的標(biāo)準(zhǔn)阻抗Zstd，如果得到的測(cè)量值為Zms，那么就按照以下公式來(lái)求出校正系數(shù)。